Naio AFM
Mikroskop sił atomowych NAIO AFM to idealna platforma edukacyjna o zwartej konstrukcji o niespotykanej wytrzymałości wobec codziennej pracy ze studentami.
Cechą charakterystyczną mikroskopu jest łatwość obsługi oraz duża elastyczność układu skanowania. Zakres pomiarowy systemu NaioAFM wynosi 70 x 70 x 14 µm, system posiada kontroler zintegrowany z podstawą mikroskopu wraz z układem antywibracyjnym
- Maksymalna wielkość próbki do 12 mm średnicy
- Wysokość próbki do 3,5mm
Zmotoryzowane zbliżanie sondy do powierzchni 4mm - Zakres skanowania w soi X i Y 70×70 µm
- Zakres skanowania w osi Z do 14 µm
- Dwa widoki. kamera patrzące od góry odraz od boku.
- Wymiary 204 mm x 204 mm x 160 mm
- Waga 6,55 Kg
- Łatwy z transporcie dzięki dedykowanej walizce
Kategoria: