CIQTEK SEM4000X

CIQTEK SEM4000X

Mikroskop CIQTEK SEM4000X to stabilny, wszechstronny i wydajny skaningowy mikroskop elektronowy z emisją polową (FE-SEM). Osiąga rozdzielczość 1,8 nm przy 1,0 kV i z łatwością radzi sobie z obrazowaniem wymagających próbek różnych typów. Mikroskop można wyposażyć w funkcję ultra-płynnego spowalniania wiązki, aby dodatkowo zwiększyć rozdzielczość przy niskich napięciach.

Mikroskop oferuje obrazowanie za pomocą wielu detektorów. Detektor elektronów umieszczony w kolumnie (UD) rejestruje sygnały SE i BSE, zapewniając wysoką rozdzielczość. Z kolei detektor montowany w komorze (LD) wyposażony w scyntylator półprzewodnikowy oraz fotopowielacze, oferuje wyższą czułość i wydajność, co przekłada się na doskonałą jakość obrazów stereoskopowych. Interfejs graficzny został zaprojektowany dla maksymalnego ułatwienia obsługi i oferuje funkcje automatyzujące akwizycje obrazów jak automatyczna regulacja jasności i kontrastu, szybki wyostrzanie, automatyczna korekcje astygmatyzmu, umożliwiając szybkie rejestrowanie obrazów o ultra-wysokiej rozdzielczości.

Specyfikacja:

Źródło Działo elektronowe z emisją polową Schottky’ego)
Rozdzielczość w wysokiej próżni 0,9 nm przy 30 kV (detektor SE),
Zakres napięcia przyspieszającego od 0,2 kV do 30 kV
Zakres powiększenia 1– 1 000 000x
Niska próżnia Max 180 Pa
Porty rozszerzeń 20
Kamera Optyczna nawigacji, kamera IR do podglądu wewnątrz komory
Stolik próbki X, Y ≥ 110 mm,

Z ≥ 65 mm

T od -10 do 70⁰

R 360⁰

Standardowe Detektor wewnątrz soczewkowy In-Lens (SE i BSE)

Detektor Everhart-Thornley ETD

Detektor elektronów wstecznie rozproszonych BSED

Opcjonalne Detektory do niskiej próżni (LVD)
Detektor skaningowej transmisyjnej mikroskopii elektronowej (STEM)
Energodyspersyjny spektrometr rentgenowski (EDS / EDX)
Detektor dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD)
Śluza boczna 4” i 8”
Sprzętowy moduł antykolizyjny

Ceramika

Napięcie przyspieszające 10 kV

Detektor ETD

Ceramic 10 kV ETD

 

Specyfikacja:

CIQTEK FESEM SEM4000x
Optyka

elektronowa

Źródło Działo elektronowe z emisją polową Schottky’ego)
Optyka Wewnątrz kolumnowe spowalnianie wiązki UBD (opcja)
Rozdzielczość w wysokiej próżni 0,9 nm przy 30 kV (detektor SE),

1.0 nm przy 15 kV (detektor SE),

1.8 nm przy 1 kV (detektor SE);

1,5 nm przy 1 kV (UBD);

0,8 nm przy 15 kV (UBD)

Zakres napięcia przyspieszającego od 0,2 kV do 30 kV
Zakres powiększenia 1– 1 000 000x
Komora Porty rozszerzeń 20
Kamera Optyczna nawigacji, kamera IR do podglądu wewnątrz komory

 

Stolik próbki X, Y ≥ 110 mm,

Z ≥ 65 mm

T od -10 do 70⁰

R 360⁰

Detektory Standardowe Detektor wewnątrz soczewkowy UD-BSE/UD-SE

Detektor Everhart-Thornley ETD-LD

Opcjonalne Wysuwany detektor elektronów wstecznie rozproszonych (BSED)
Detektory do niskiej próżni (LVD)
Detektor skaningowej transmisyjnej mikroskopii elektronowej (STEM)

 

Energodyspersyjny spektrometr rentgenowski (EDS / EDX)

 

Detektor dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD)

 

Akcesoria Śluza boczna 4” i 8”

 

Panel sterowania i trackball

 

Sprzętowy moduł antykolizyjny

 

Obsługa Nawigacja Nawigacja optyczna na obrazie, nawigacja uproszczona, trackball (opcja)

 

Funkcje automatyczne Automatyczna regulacja jasności i kontrastu, automatyczne ostrzenie (autofokus) oraz automatyczne ustawienie astygmatyzmu