CIQTEK SEM3200

Strona główna Produkty Mkroskopy elektronowe CIQTEK SEM3200

conductive collectro fluid – raw foil 10 kV ETD

Lithium battery nagative electrode – hard carbon 10 kV ETD

CIQTEK SEM3200

Mikroskop elektronowy SEM3200 firmy CIQTEK to doskonały, uniwersalny skaningowy mikroskop elektronowy z włóknem wolframowym, charakteryzujący się wybitnymi możliwościami. Unikalna konstrukcja działa elektronowego z podwójną anodą zapewnia wysoką rozdzielczość oraz poprawia stosunek sygnału do szumu przy niskich napięciach przyspieszających. SEM 3200 oferuje szerokie możliwość obrazowania próbek zarówno w wysokiej oraz w niskiej próżni a także szeroką gamę akcesoriów dodatkowych co czyni go wszechstronnym systemem pomiarowym.

Źródło	wstępnie wycentrowane włókno wolframowe podwójna anoda (opcja)
Rozdzielczość w wysokiej próżni	3 nm przy 30 kV (detektor SE), 7 nm przy 3 kV (detektor SE), 4 nm przy 30 kV (detektor BSE);
Rozdzielczość w niskiej próżni (opcja):	3 nm przy 30 kV (detektor SE), 4 nm przy 30 kV (detektor BSE); Zakres niskiej próżni LV 5–1000 Pa
Zakres napięcia przyspieszającego	od 0,2 kV do 30 kV
Zakres powiększenia	1– 300 000x
Stolik próbki	X, Y ≥ 125 mm, Z ≥ 50 mm T od -10 do 70⁰ R 360⁰
Standardowe	Detektor ETD
Opcjonalne	Wysuwany detektor elektronów wstecznie rozproszonych (BSED)
	Detektor elektronów wtórnych (SE) do niskiej próżni LVD
	Energodyspersyjny spektrometr rentgenowski (EDS / EDX)
	Detektor dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD)

Kategoria:

Mkroskopy elektronowe /

Mikroskopy wolframowe SEM

Tryb niskiej próżni w LV-SEM

Mikroskop SEM3200 firmy CIQTEK oferuje dwa poziomy trybu niskiej próżni.

Ciśnienie w komorze w zakresie 5–180 Pa jest osiągalne bez stosowania przysłony ograniczającej ciśnienie (PLA), natomiast zakres 180–1000 Pa – z wykorzystaniem przesłony PLA.

Dzięki specjalnej konstrukcji komory próżniowej obiektywu zredukowano średnią drogę swobodną elektronów w warunkach niskiej próżni, co pozwala osiągnąć rozdzielczość na poziomie 3 nm przy 30 kV.

Wiązka padających elektronów jonizuje cząsteczki powietrza znajdujące się nad powierzchnią, generując elektrony i jony. Jony te neutralizują ładunki powstające na powierzchni próbki, co pozwala na eliminację efektu ładowania.

Emisja elektronów wtórnych z powierzchni próbki jonizuje cząsteczki powietrza, generując jednocześnie elektrony, jony oraz fotony.

Powstałe elektrony jonizują następnie kolejne cząsteczki powietrza, w wyniku czego wytwarzana jest duża liczba fotonów, które są następnie rejestrowane przez detektor niskiej próżni (LVD – Low Vacuum Detector).

W trybie wysokiej próżni detektor LVD bezpośrednio rejestruje sygnał katodoluminescencji emitowany z próbki przy jednoczesnym obrazowaniu z kanału detektora elektronów wstecznie rozproszonych (BSED).

Podwójna struktura anody w dziale elektronowym

W przypadku próbek z materiałów węglowych, przy niskich napięciach wzbudzenia głębokość wnikania wiązki jest niewielka, co umożliwia rejestrację rzeczywistej morfologii powierzchni z bogatszymi szczegółami próbki.

W przypadku próbek z materiałów węglowych, przy niskich napięciach wzbudzenia głębokość wnikania wiązki jest niewielka, co umożliwia rejestrację rzeczywistej morfologii powierzchni z bogatszymi szczegółami.

Nawigacja optyczna

Wykorzystanie pionowo zamontowanej kamery komorowej do rejestracji obrazów optycznych w celu nawigacji stolika preparatu umożliwia bardziej intuicyjne i precyzyjne pozycjonowanie próbki.

Zastosowanie kamery umieszczonej pionowo nad komorą (często nazywanej kamerą przeglądową lub nawigacyjną) znacząco podnosi komfort i dokładność pracy w zaawansowanej mikroskopii elektronowej.

Automatyczna jasność i kontrast

Inteligentna korekcja astygmatyzmu

W tym trybie astygmatyzm w osiach X i Y zmienia się wraz z położeniem pikseli. Ostrość obrazu jest maksymalna przy optymalnej wartości astygmatyzmu, co umożliwia szybkie dostrojenie stygmatora.

Funkcje automatyczne

Ulepszone funkcje automatycznej jasności i kontrastu, automatycznego ustawiania ostrości oraz automatycznej korekcji astygmatyzmu.

Obrazowanie jednym kliknięciem!

Piana polimerowa

PUR

Napięcie przyspieszające 15 kV

Detektor ETD

Fazy wydzieleniowe w stopie aluminium

Stop aluminium 2A12

Napięcie przyspieszające 15 kV

Detektor BSED

2A12 Aluminium alloy percipitation phase 15kV BSED

Pancerzyk okrzemek

Pory okrzemek

Napięcie przyspieszające 10 kV

Detektor ETD

Specyfikacja:

CIQTEK SEM3200
Optyka elektronowa	Źródło	wstępnie wycentrowane włókno wolframowe, układ podwójnej anody, poprawiający rozdzielczości oraz jakość obrazowania przy niskim napięciu przyspieszjącym (opcja)
	Rozdzielczość w wysokiej próżni	3 nm przy 30 kV (detektor SE), 7 nm przy 3 kV (detektor SE), 4 nm przy 30 kV (detektor BSE);
	Rozdzielczość w niskiej próżni (opcja):	3 nm przy 30 kV (detektor SE), 4 nm przy 30 kV (detektor BSE); Zakres niskiej próżni LV 5–1000 Pa
	Zakres napięcia przyspieszającego	od 0,2 kV do 30 kV
	Zakres powiększenia	1– 300 000x
Komora	Porty rozszerzeń	5
	Kamera	Optyczna nawigacji, kamera IR do podglądu wewnątrz komory
	Stolik próbki	X, Y ≥ 125 mm, Z ≥ 50 mm T od -10 do 70⁰ R 360⁰
Detektory	Standardowe	Detektor ETD
	Opcjonalne	Wysuwany detektor elektronów wstecznie rozproszonych (BSED)
		Detektor elektronów wtórnych (SE) do niskiej próżni LVD
		Energodyspersyjny spektrometr rentgenowski (EDS / EDX)
		Detektor dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD)
Akcesoria	Śluza boczna 4”
	Panel sterowania i trackball
	Sprzętowy moduł antykolizyjny
Obsługa	Nawigacja	Nawigacja optyczna na obrazie, nawigacja uproszczona, trackball (opcja)
Obsługa	Funkcje automatyczne	Automatyczna regulacja jasności i kontrastu, automatyczne ostrzenie (autofokus) oraz automatyczne ustawienie astygmatyzmu