Mikroskop elektronowy SEM2100 firmy CIQTEK ze źródłem wolframowym charakteryzuje się uproszczoną obsługą, oprogramowaniem, które pomimo minimalistycznego wyglądu, oferuje pełen zakres automatyzacji obrazowania oraz zaawansowane możliwości analizy obrazu z użyciem nawigacji optycznej.
| Źródło | wstępnie wycentrowane włókno wolframowe |
| Rozdzielczość w wysokiej próżni | 3 nm przy 30 kV (detektor SE),
7 nm przy 3 kV (detektor SE), 4 nm przy 30 kV (detektor BSE);
|
| Rozdzielczość w niskiej próżni (opcja): | 3 nm przy 30 kV (detektor SE),
4 nm przy 30 kV (detektor BSE); Zakres niskiej próżni LV 5–1000 Pa |
|
Zakres napięcia przyspieszającego |
od 0,2 kV do 30 kV |
| Zakres powiększenia | 1– 300 000x |
| Stolik próbki | X, Y ≥ 125 mm,
Z ≥ 50 mm |
| Standardowe |
Detektor ETD
|
| Opcjonalne | Wysuwany detektor elektronów wstecznie rozproszonych (BSED) |
| Detektor elektronów wtórnych (SE) do niskiej próżni LVD | |
| Energodyspersyjny spektrometr rentgenowski (EDS / EDX) | |
| Detektor dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD) |
Wykorzystanie pionowo zamontowanej kamery komorowej do rejestracji obrazów optycznych w celu nawigacji stolika preparatu umożliwia bardziej intuicyjne i precyzyjne pozycjonowanie próbki.
Zastosowanie kamery umieszczonej pionowo nad komorą (często nazywanej kamerą przeglądową lub nawigacyjną) znacząco podnosi komfort i dokładność pracy w zaawansowanej mikroskopii elektronowej.

W tym trybie astygmatyzm w osiach X i Y zmienia się wraz z położeniem pikseli. Ostrość obrazu jest maksymalna przy optymalnej wartości astygmatyzmu, co umożliwia szybkie dostrojenie stygmatora.

Ulepszone funkcje automatycznej jasności i kontrastu, automatycznego ustawiania ostrości oraz automatycznej korekcji astygmatyzmu.
Obrazowanie jednym kliknięciem!


Napięcie przyspieszające 15 kV
Detektor ETD
Napięcie przyspieszające 1 kV
Detektor ETD
Napięcie przyspieszające 15 kV
Detektor ETD
| CIQTEK SEM2100 | ||
| Optyka
elektronowa |
Źródło | wstępnie wycentrowane włókno wolframowe |
| Rozdzielczość w wysokiej próżni | 3 nm przy 30 kV (detektor SE),
7 nm przy 3 kV (detektor SE), 4 nm przy 30 kV (detektor BSE); |
|
| Rozdzielczość w niskiej próżni (opcja): | 3 nm przy 30 kV (detektor SE),
4 nm przy 30 kV (detektor BSE); Zakres niskiej próżni LV 5–1000 Pa |
|
| Zakres napięcia przyspieszającego | od 0,2 kV do 30 kV | |
| Zakres powiększenia | 1– 300 000x | |
| Komora | Porty rozszerzeń | 5 |
| Kamera | Optyczna nawigacji, kamera IR do podglądu wewnątrz komory | |
| Stolik próbki | X, Y ≥ 125 mm,
Z ≥ 50 mm |
|
| Detektory | Standardowe | Detektor ETD |
| Opcjonalne | Wysuwany detektor elektronów wstecznie rozproszonych (BSED) | |
| Detektor elektronów wtórnych (SE) do niskiej próżni LVD | ||
| Energodyspersyjny spektrometr rentgenowski (EDS / EDX) | ||
| Detektor dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych (EBSD) | ||
| Akcesoria | Śluza boczna 4” | |
| Panel sterowania i trackball | ||
| Obsługa | Nawigacja | Nawigacja optyczna na obrazie, nawigacja uproszczona, trackball (opcja) |
| Funkcje automatyczne | Automatyczna regulacja jasności i kontrastu, automatyczne ostrzenie (autofokus) oraz automatyczne ustawienie astygmatyzmu | |