CIQTEK HEM6000

Strona główna Produkty Mkroskopy elektronowe CIQTEK HEM6000

Renal Pathology Section 8,110x STEM 320ns

Renal Pathology Section 9,324x STEM 320ns

Renal Pathology Section 38,571x STEM 320ns

CIQTEK HEM6000

Mikroskop CIQTEK HEM6000 oferuje zaawansowane technologie, takie jak wysokiej jasności działo elektronowe z dużą wartością prądu wiązki, szybki system odchylania wiązki elektronowej, wbudowane w stolik spowalnianie wiązki wysokim napięciem, dynamiczne sterowanie osią optyczną oraz immersyjny obiektyw z soczewką elektromagnetyczno-elektrostatyczną, aby osiągnąć wysoką szybkość akwizycji obrazu przy jednoczesnym zachowaniu wysokiej rozdzielczości obrazowania.

Zautomatyzowany proces obsługi mikroskopu został zaprojektowany z myślą o zastosowaniach wymagających bardziej wydajnego i inteligentnego obrazowania dużych obszarów próbki z wysoką rozdzielczością. Szybkość obrazowania jest ponad pięciokrotnie większa niż w przypadku konwencjonalnego skaningowego mikroskopu elektronowego z emisją polową (FESEM).

Kategoria:

Mkroskopy elektronowe /

Mikroskopy z emisją polową FEG-SEM

Wysokowydajna automatyzacja W pełni automatyczny proces załadunku i rozładunku próbek oraz przechwytywania obrazów, sprawia, że całkowita prędkość obrazowania jest 5 razy większa niż w przypadku tradycyjnego FEG-SEM.	Duże pole widzenia Technologia, która dynamicznie przesuwa oś optyczną zgodnie z zadanym zakresem skanowania, pozwala osiągać minimalne zniekształcenia na krawędziach obrazowanego pola widzenia.	Niskie zniekształcenia obrazów Technologia rozbudowanego dwu-etapowego spowalniania wiązki na stoliku próbki, pozwala uzyskać niską energię lądowania przy jednoczesnym uzyskaniu obrazów o wysokiej rozdzielczości.
Szybki moduł skanowania Czas przebywania wiązki to 10 ns/piksel, maksymalna prędkość akwizycji obrazu 2×100 milionów pikseli/s.	Elektrostatyczne odchylanie wiązki Obrazowanie o dużym polu widzenia i wysokiej rozdzielczości, maksymalne pole widzenia do 64 µm × 64 µm przy 4 nm na piksel.	Elektromagnetyczne i elektrostatyczne odchylanie wiązki, immersyjna optyka Soczewka immersyjna umożliwia obrazowanie o wysokiej rozdzielczości i niskich aberracjach.

Specyfikacja:

		HEM6000-SEMI	HEM6000-BIO	HEM6000-LITE
Optyka elektronowa	Źródło	Działo elektronowe z emisją polową Schottky’ego)
	Rozdzielczość w wysokiej próżni	1,5 nm / 1 kV (SE)	1,8 nm / 1 kV (BSE)	1,5 nm / 1 kV (BSE)
	Zakres napięcia przyspieszającego	od 0,1 kV do 30 kV (tryb deceleracji)	od 6 kV do 30 kV	od 6 kV do 30 kV
	Zakres powiększenia	66– 1 000 000x
	Soczewka obiektywu	Obiektyw immersyjny z soczewką elektromagnetyczno-elektrostatyczną
	Deflektor elektrostatyczny	5 stopniowy	4 stopniowy	4 stopniowy
Komora	Kamera	Kamera monitorująca głównej komory; kamera monitorująca komory załadunkowej
	Maksymalna wielkość próbki	Próbka o średnicy 4 cali
	Stolik próbki	X, Y ≥ 110 mm, Z ≥ 16 mm Automatyczna wymiana próbki
	Czytsczenie komory załadowczej	Zautomatyzowany system czyszczenia nisko reaktywną plazmą.
Akwizycja i przetwarzanie obrazów	Czas przebywania wiązki w punkcje	10 ns/piksel
Akwizycja i przetwarzanie obrazów	Szybkość akwizycji	*100 M pikseli/s
	Rozmiar obrazu	16 K*16 K
Detektory	Nisko kątowy chowany detektor elektronów wstecznie rozproszonych	Opcja	Brak	Standard
	Nisko kątowy detektor elektronów wstecznie rozproszonych, zamontowany na dole	Opcja	Standard	Brak
	Detektor wewnątrzkolumnowy	Standard	Opcja	Opcja
	Wewnątrzkolumnowy detektor elektronów wstecznie rozproszonych pod wysokim kątem	Opcja	Opcja	Opcja
	Piezoelektryczny stolik próbki	Opcja	Opcja	Opcja
	Tryb wysokiej rozdzielczości z dużym polem widzenia (SW)	Opcja	Opcja	Opcja
	Redukcja szumów AI; Łączenie dużych obszarów obrazu (Large Area Field Stitching); Rekonstrukcja 3D	Opcja	Opcja	Opcja
Akcesoria	Śluza boczna 6”	Opcja	Opcja	Opcja
	Panel sterowania i trackball	Opcja	Opcja	Opcja
	Aktywny system izolacji antywibrazyjnej	Opcja	Opcja	Opcja
Obsługa	Nawigacja	Nawigacja optyczna na obrazie, nawigacja uproszczona, trackball (opcja)
Obsługa	Funkcje automatyczne	Automatyczna regulacja jasności i kontrastu, automatyczne ostrzenie (autofokus) oraz automatyczne ustawienie astygmatyzmu