Nowy standard obserwacji w świetle spolaryzowanym
Optyka UIS2 zapewnia wyjątkową możliwość rozbudowy
Maksymalizując zalety korekcji do nieskończoności, układ optyczny UIS2 pomaga zapobiegać naturalnym abberacjom mikroskopii optycznej i eliminuje artefakty powiększenia, nawet gdy na drodze światła wprowadzone zostaną elementy polaryzujące, takie jak analizatory, płytki
barwiące lub kompensatory. Mikroskop BX53- P współpracuje również z dodatkowymi modułami pośrednimi dostępnymi dla mikroskopów serii BX3, a także kamerami i systemami obrazowania.
Soczewka Bertranda do obserwacji konoskopowych i ortoskopowych
Dzięki modułowi do obserwacji konoskopowych przełączanie między obserwacją ortoskopową i konoskopową jest proste. Można na nim ustawić ostrość w celu oglądania wyraźnych wzorów interferencyjnych tylnej płaszczyzny ogniskowej. Przysłona polowa umożliwia spójne uzyskanie ostrych obrazów konoskopowych.
Szeroka gama kompensatorów i płytek falowych
Dostępnych jest sześć różnych kompensatorów do pomiarów dwójłomności w cienkich przekrojach skał i minerałów. Poziom opóźnienia pomiaru mieści się w zakresie od 0 do 20λ. Dla łatwiejszego pomiaru i wysokiego kontrastu obrazu Berek i Senarmont można zastosować kompensatory zmieniające stopień opóźnienia w całym polu widzenia.
ZAKRES POMIAROWY KOMPENSATORÓW
Kompensator | Zakres pomiarowy | Zastosowanie |
---|---|---|
Thick Berek (U-CTB) | 0–11000 nm (20λ) | Pomiar wysokiego poziomu opóźnienia (R*>3λ), (Krzyształy, mikrotubule, włókna, etc.) |
Berek (U-CBE) | 0–1640 nm (3λ) | Pomiar wysokiego poziomu opóźnienia (kryształy, makromolekuły, żywe organizmy, etc.) |
Senarmont Compensator (U-CSE) | 0–546 nm (1λ) | Pomiar wysokiego poziomu opóźnienia (kryształy, żywe organizmy, etc.); zwiększenie kontrastu obrazu (żywe organizmy, etc.) |
Brace-Koehler Compensator1/10λ (U-CBR1) | 0–55 nm (1/10λ) | Pomiar wysokiego poziomu opóźnienia (żywe organizmy, etc.) |
Brace-Koehler Compensator1/30λ (U-CBE2) | 0–20 nm (1/30λ) | Pomiar wysokiego |
Quartz Wedge (U-CWE2) | 500–2200 nm (4λ) | Przybliżony pomiar poziomu opóźnienia (kryształy, makromolekuły, etc.) |
*R = retardation level
For more accurate measurement, we recommend that compensators (except U-CWE2) be used together with the interference fi lter 45-IF546
Solidny i dokładny stolik obrotowy
Mechanizm obracająco-centrującyprzymocowany do obrotowego stolika próbki umożliwia płynny obrót badanego preparatu. Ponadto istnieje mechanizm zatrzaskowy przy każdych 45 stopniach zapewniający precyzyjne ustawienie. Dzięki opcjonalnemu stolikowi dwu- mechanicznemu możliwy jest dokładny przesuw X-Y.