Sekwencyjny spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją długości fali i lampą umieszczoną pod próbką

Bezkompromisowa analiza rentgenowska cieczy, stopów i metali powlekanych

Wysokowydajny model z lampą umieszczoną pod próbką umożliwia precyzyjną analizę takich materiałów jak ciecze, stopy i metale powlekane. Spektrometr ZSX Primus IV𝒾 WDXRF łączy wysoką wydajność z elastycznością niezbędną do analizy nawet najbardziej złożonych próbek.
Urządzenie wyposażono w 30-mikrometrowe okno berylowe (Be) lampy rentgenowskiej – najcieńsze standardowe okno tego typu w branży – zapewniające wyjątkowo niskie granice wykrywalności pierwiastków lekkich (o niskiej liczbie atomowej Z).

Broszura